泰勒霍普森、便携式粗糙度仪SURTRONIC DUO信息

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO核心功能亮点

分体无线测量，解决难测工位

两单元分离后，驱动头伸入深孔、内孔、模具型腔、曲轴内孔，手持显示屏远距离读数，无需俯身、倒挂操作。

一键极速测量

InstantOn 秒开机（＜5s），单键启动扫描，3 秒出全套粗糙度参数，同步显示表面轮廓波形图；支持 μm/μin 单位切换。

自动校准，溯源可靠

标配 CS-20 校准样板（Ra=5.81μm），一键自动校准，满足质检、来料、出货检测计量溯源要求。

工业耐用设计

测针收纳保护座，运输防断针；整机抗摔，屏幕强光可视；锂电循环寿命长，支持充电宝现场充电。

数据存储与导出

本地存储多组测量记录，USB 导出至 PC，可对接质检报表、SPC 过程管控。