XDL 系列 X 射线荧光测厚仪信息

德国菲希尔的 XDL 系列 X 射线荧光测厚仪，以其先进技术和可靠性能，成为众多行业质量检测的得力助手。XDL 系列中的 XDL 240，在镀层厚度测量及材料分析方面表现优。

XDL 240 运用 X 射线荧光光谱法进行无损检测，其自动聚焦功能可确保样品完整性不受影响，同时保障测量的准确性。在硬件性能上，它配备了移动范围≥95x150mm 的动 X/Y 平台，可用工作台面≥420x450mm，能轻松放置多样品并进行测量，且当保护门开启时，工作台会自动移到便于放置样品的位置，极大方便了操作。电动 Z 轴支持手动 / 自动聚焦，移动范围≥140mm，可适配不同高度的样品，让各类样品都能处于最佳测量位置。

该仪器采用测量距离补偿法（DCM）这一创新技术，能够实现 80mm 深度的腔体样品远距离对焦测量，有效解决了深腔样品测量这一行业难题。其可变高压支持 30KV、40KV、50KV 三档调节，用户可依据不同的测试样品和场景，灵活选择合适的高压，进而获得精准的测量结果。标配的 φ0.3 的圆形准直器可提升测量精度，此外，还有 φ0.1mm、φ0.2mm 及长方形 0.3mmx0.05mm 等多种准直器可供选择，满足不同测量需求。X 射线探测器采用比例接收器，能稳定接收信号，保证测量数据的准确性和可靠性。内置的高分辨率 CCD 摄像头，放大倍数 40 - 160 倍，便于操作人员观察定位样品。沿初级 X 射线光束方向可清晰观察测量位置，配备的手动聚焦、十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）以及可调节亮度的 LED 照明，还有用于准确定位样品的激光光点，都使得操作人员能够快速、准确地放置和定位样品，大幅提高了检测效率 。