菲希尔测厚仪FISCHER XDL230信息

菲希尔X射线测厚仪技术参数与核心功能

1. FISCHERSCOPE X-RAY XDL230检测能力

• 元素范围：覆盖氯（Cl, 17）至铀（U, 92），最多可同时测定 24 种元素（配 WinFTM® BASIC 软件时）。

• 镀层分析：支持多层镀层结构检测，包括装饰性镀层、功能性镀层（如电子工业中的焊盘镀层）及复杂基体材料。

• 检测精度：重现性变异系数小于 0.5%，测量厚度范围从纳米级（如超薄装饰铬镀层）到毫米级。

• 微区检测：最小测量光斑直径约 0.2mm（使用 φ0.1mm 准直器时），适用于微小零件（如电子元器件、珠宝）的局部成分分析。

2. 硬件设计

• 手动 XY 平台：移动范围 95×150mm，支持大尺寸样品（如 PCB 板）的灵活检测。

• 马达驱动 Z 轴：行程 140mm，技术实现 0-80mm 测量距离的精度补偿，可适应复杂形状样品（如腔体零件）。

• X 射线源：带铍窗口的钨靶 X 射线管，高压三档可调（30kV、40kV、50kV），最大功率 120W，使用寿命较上一代提升 40% 以上。

• 探测器：采用比例计数器（PC），能量分辨率高（130eV@Mn Kα），计数率稳定，适合快速测量。

• 样品定位：

• 光学系统：高分辨率 CCD 彩色摄像头（40-160 倍放大）与激光定位辅助，确保测量点精准对准。

3. 软件与操作

• WinFTM® 软件：提供全中文界面，支持数据管理、报告生成及无标样分析（基于基本参数法），可存储大量检测数据并建立样品库。

• 操作便捷性：通过计算机控制全流程，支持实时视频监控测量过程，降低操作门槛。