菲希尔X-RAY XDL230荧光射线测厚仪信息

 核心技术原理

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 基于 X 射线荧光光谱分析原理开展工作。当 X 射线源发出的初级 X 射线照射样品时，样品中各元素原子的内层电子被激发产生空位，外层电子跃迁填补空位并释放特征 X 射线荧光。设备通过探测器收集特征 X 射线荧光的能量与强度信息，结合基本参数法（FP 法），实现对样品中元素种类、含量以及镀层厚度的定量分析。自动聚焦功能确保 X 射线束与样品表面的最佳耦合，提升测量精度与重复性。

菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X 射线镀层测厚仪通过 EDXRF 技术与多维度创新设计，实现了检测精度、效率与适用性的有机统一。其在无损检测领域的应用，为工业生产质量管控与材料科学研究提供了可靠的技术手段，随着检测需求的持续升级，该设备的技术优势将进一步推动相关领域的检测技术发展。