菲希尔测厚仪X射线非接触信息

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 作为一款能量色散型 X 射线荧光（EDXRF）检测设备，基于 X 射线荧光光谱分析原理，通过非破坏性检测方式，实现对镀层厚度的精确测量、材料成分定性定量分析及溶液成分检测。该设备在工业质量控制、原材料检验及生产流程监测等环节具备广泛的适用性，其核心技术特性如下：
一、测量原理与分析能力
设备采用 X 射线荧光光谱法，借助自动聚焦系统，在确保样品完整性的前提下，实现高精度测量。其元素分析范围覆盖原子序数 17（Cl）至 92（U），可同时对多达 24 种元素、23 层镀层进行同步分析，适用于复杂多层镀层结构的检测需求。
二、硬件系统技术特性
（一）样品定位与运动系统
手动 X/Y 平台具备不小于 95×150mm 的移动范围，工作台面面积不低于 420×450mm，为多样品的放置、测量及快速切换提供充足空间；电动 Z 轴支持手动与自动两种聚焦模式，行程范围达 140mm，可适配高度达 140mm 的复杂形状样品。
（二）深度检测技术
通过测量距离补偿法（DCM），设备能够实现对深度 0-80mm 腔体样品的远距离对焦测量，突破传统接触式检测的空间限制，满足特殊结构样品的检测需求。
（三）射线发生系统
X 射线发生器提供 30kV、40kV、50kV 三档高压调节功能，可根据不同材质及镀层厚度特性，灵活调整激发条件，确保检测的准确性与有效性。
（四）准直系统
标配 φ0.3mm 圆形准直器，同时提供 φ0.1mm、φ0.2mm 圆形及 0.3mm×0.05mm 长方形等多种规格可选，可实现微米级区域的精准测量，满足不同精度要求的检测任务。
（五）信号采集与定位系统
比例接收器具备高计数率信号采集能力，配合 40-160 倍高分辨率 CCD 摄像头，辅以激光定位及 LED 照明系统，可实现测量点的实时监控与快速校准，确保检测过程的高效性与准确性。
以上内容从专业角度对仪器核心功能和技术优势进行了阐述。若你觉得还有需要调整的地方，比如增减某些内容，欢迎随时告知。