您现在的位置:首页 > 技术文章 > 泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic DUO测量原理

泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic DUO测量原理

  • 发布日期:2022-05-09      浏览次数:81
    • 泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic DUO测量原理

      泰勒霍普森粗糙度仪测量原理
      通过采用耐磨的金刚石测针部件,以及精密的机动驱动装置,确保行进正确的水平距离。当测针划过波峰和波谷时,高感应度的压电传感器能检测到它的垂直移动,然后将机械移动转化为电子信号。电子信号将进行数字化处理并发送到微处理器,然后使用标准化算法即时计算表面粗糙度参数。

      无锡骏展仪器有限责任公司的产品和系统解决方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造、精密机械、模具加工、电子电力、铸造、冶金、航空航天、工程建设、大学和其他研究实验室和生产线,质量控制,和教育事业,以评估的几何特征的材料,组件和结构和理化性质,先进制造技术的驱动精益求精。


      泰勒霍普森粗糙度仪

      泰勒粗糙度仪

      surtronic duo

       

    在线咨询