泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic 3+介绍

 泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic 3+介绍

泰勒霍普森粗糙度仪参数                                                                                                                                      

技术指标：
测量范围	±150μm	分辨率	0.01μm
测量行程（大值）	25.4mm	测量行程(小值)	0.25mm
传感器类型	可选换	测量速度	1mm/S
测针	112/1502标准测针
	测尖半径5μm
	112/1053替换标准测针
	测尖半径10μm
取样长度	0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm	参数精度	2%读数精度+LSDμm
测量参数	Ra, Rq, Rz, Ry, Sm, Rt,	主机电源	电池或接线电源
选用参数	Pc(用于代替Rq)	WINDOWS界面图形分析	Waviness+Roughness
	Tp%(可用于代替Rq)		曲线分析图
数据处理器参数	Ra,Rv,Rq,Rp,Ry,Rz,RzJISIr,
	Sm,RsK,Rku,S,Pc,HSC,Rk,
	Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,
	Rpk,Rvk,R,Rmax,Ar,Pt,Kr,
	tp5%,Htp,Vo
微机处理参数	粗糙度参数
	Ra,Rq,Rt,Rp,Rv,Rku,Rsm,RzRTp,RHTp,……R3z.
	波纹度参数
	Wa,Wq,Wt,Wp,Wv,Wku,Wsk,Wsm,……W3z
	示滤波参数
	Pa,Pq,Pv,Pt,…Ppc
	RK参数
	Rk,RpK,Rvk,……A1,Rvk
	R+W参数
	R,Ar,Pt…HTrc
主机尺寸	130*80*65mm	主机重量	450g
数据处理机	185*140*50mm

 

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