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泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic 3+介绍

  • 发布日期:2022-05-09      浏览次数:107
    •  泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic 3+介绍

      泰勒霍普森粗糙度仪参数                                                                                                                                      

      技术指标:


      测量范围±150μm分辨率0.01μm
      测量行程(大值)25.4mm测量行程(小值)0.25mm
      传感器类型可选换测量速度1mm/S
      测针112/1502标准测针
      测尖半径5μm
      112/1053替换标准测针
      测尖半径10μm
      取样长度0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm参数精度2%读数精度+LSDμm
      测量参数Ra, Rq, Rz, Ry, Sm, Rt,主机电源电池或接线电源
      选用参数Pc(用于代替Rq)WINDOWS界面图形分析Waviness+Roughness
      Tp%(可用于代替Rq)曲线分析图
      数据处理器参数Ra,Rv,Rq,Rp,Ry,Rz,RzJISIr,
      Sm,RsK,Rku,S,Pc,HSC,Rk,
      Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,
      Rpk,Rvk,R,Rmax,Ar,Pt,Kr,
      tp5%,Htp,Vo
      微机处理参数粗糙度参数
      Ra,Rq,Rt,Rp,Rv,Rku,Rsm,RzRTp,RHTp,……R3z.
      波纹度参数
      Wa,Wq,Wt,Wp,Wv,Wku,Wsk,Wsm,……W3z
      示滤波参数
      Pa,Pq,Pv,Pt,…Ppc
      RK参数
      Rk,RpK,Rvk,……A1,Rvk
      R+W参数
      R,Ar,Pt…HTrc
      主机尺寸130*80*65mm主机重量450g
      数据处理机185*140*50mm

       

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