FISCHER X射线测厚仪 XAN500信息

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XAN500核心硬件参数

探测系统（核心优势）

制冷型SDD 硅漂移探测器，Mn-Kα 能量分辨率≤160eV，薄镀层、合金镀层高精度

X 射线管：钨靶，40kV/100μA，最大功率 4W

准直器 2mm，测量光斑 φ3mm，适合小区域、螺丝、端子测量

机身与续航

整机重量 1.9kg，单手可操作

锂电续航最长 6 小时，支持现场离线检测

防护等级IP54，车间、户外现场可用

三点支撑定位，每次测量贴合稳定，重复性好

元素分析范围

硫 (S,16) ~ 铀 (U,92)，单次同步识别最多 24 种元素

配套软件

WinFTM 专业分析软件，搭配平板触控操作；支持无标准片基础参数法测未知合金、多层镀层；数据导出、SPC 统计、产线报表齐全