ISOSCOPE DMP10用于铝、铜、黄铜等非磁性导电基材上的涂层或氧化膜复核时,现场人员有时会遇到同一批样品读数分散的情况。遇到这种问题,不宜先把原因归到设备本身,应该按样品、测点、参考样和记录口径逐项排查。
一、样品表面是否稳定。涂层测厚前应先观察被测区域是否有油污、灰尘、毛刺或局部划伤。表面不干净时,探头接触状态会变化,读数也可能随位置变化而波动。必要时先清洁相邻区域,再做复测记录。
二、基材和覆盖层是否一致。ISOSCOPE DMP10面向非磁性导电基材上的非导电涂层检测,如果同一批样品中混入不同材料、不同表面处理或不同涂装工艺,数据就不能简单放在一组内比较。检测前应把样品来源和工艺状态分清。
三、测点是否按同一规则安排。平面、边缘、转角和孔位附近的测量条件不同。若上一班在平面测量,下一班改在边缘取点,即使工件来自同一批次,结果也可能不同。记录中应写清测点位置和复测位置。
四、参考样状态是否可用。检测前用参考样确认设备状态时,要注意参考样是否磨损、污染或标识不清。若参考样自身状态变化,后续批量检测的判断基础也会变弱。
五、记录口径是否统一。一次异常排查应保留样品编号、测点说明、复测次数、检测人员和处理意见。只有把这些信息写清楚,质量人员才能判断波动来自涂层状态,还是来自操作条件变化。
用ISOSCOPE DMP10处理读数波动,重点是按顺序排除现场条件影响。先把样品、测点、参考样和记录口径理顺,再讨论工艺或设备状态,结论会更稳妥。
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