泰勒粗糙度仪Surtronic DUO分体式信息

Surtronic DUO 是英国泰勒霍普森（Taylor Hobson）公司推出的一款创新型高级便携式表面粗糙度测量仪，专为满足现代工业现场对高效、灵活及精准测量的需求而设计。作为传统手持式粗糙度仪的革新之作，Surtronic DUO 最的特点在于其独特的“分体式"架构。该仪器由显示控制单元和驱动测量单元两部分组成，两者之间通过稳定的蓝牙无线技术进行通讯。这种分离式设计极大地拓展了测量的适用范围，使得操作人员在面对深孔、凹槽、大型工件或难以直接接触的表面时，只需将小巧的驱动单元置于测量位置，即可在远处的显示屏上实时读取数据，解决了传统一体式仪器在特殊工况下操作不便的难题。
在功能表现上，Surtronic DUO 延续了泰勒霍普森一贯的高精度基因。用户只需按下单个按钮，仪器即可自动完成测量过程，并在其配备的2.4英寸高清彩色LCD屏幕上即时显示详细的轮廓图及多种关键粗糙度参数。它支持包括Ra（轮廓算术平均偏差）、Rz（十点高度）、Rt（高度）、Rp、Rv以及Rsk、Rku等在内的9种常用表面粗糙度参数，同时提供5种未滤波参数选项符合ISO、ASME等国际主流标准。直观的图形化界面不仅让数据读取一目了然，还便于操作人员快速判断表面加工质量。