菲希尔金属镀层测厚仪XAN215信息

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO定位：经济型台式 EDXRF，面向珠宝、贵金属、钱币、简单镀层的无损检测。

原理：能量色散 X 射线荧光（EDXRF）+ 菲希尔基本参数法（FP），无需标准片即可分析固 / 液样品与多层镀层。

合规：符合 DIN ISO 3497、ASTM B568。

SURTRONIC DUO泰勒霍普森核心优势

高性价比入门：兼顾精度与成本，适合贵金属与简单镀层场景。

FP 法免标样：无需标准片即可定量，降低使用门槛。

快速无损：15 秒出结果，不损伤样品。

稳定可靠：长期稳定性好，减少校准频率。

操作友好：可视化定位、一键测量、多语言软件。

典型应用

贵金属成分分析：金、银、铂、钯、K 金、白金、牙科合金。

镀层厚度测量：单 / 多层电镀（如镀金、镀铑、镀银）。

珠宝、钱币、首饰、贵金属回收与质量控制。