Surtronic S-116粗糙度仪的性能特点信息

S-116延续了系列经典的坚固设计和人性化布局，但其功能得到了显著扩展。它支持包括Ra, Rz, Rq, Rt在内的多个国际标准（ISO, ASME, JIS）粗糙度参数，并能测量轮廓的峰谷深度、间距等更多特征值，满足更为复杂的分析需求。清晰的大尺寸背光显示屏，即使在光线昏暗的车间也能轻松读数。

该型号的核心亮点之一是其的数据存储与管理能力。仪器内置大容量存储器，可存储多达500组的测量数据和曲线。每组数据都包含完整的测量条件、结果和统计信息。通过直观的导航菜单，用户可以方便地回顾、删除或分组管理历史数据。这一功能对于需要追踪批量工件质量、进行长期过程能力分析（CPK/PPK计算）的应用至关重要。

Surtronic S-116配备了功能强大的PC软件接口。用户不仅可以将数据上传至电脑，利用软件进行更深入的数据分析、生成定制化报告和证书，还能通过软件对仪器进行复杂的参数设置和校准管理，提升了使用的灵活性。其测量范围宽，分辨率高，配合多种可选探头和附件（如小型驱动器、深槽测量支架等），能够适应平面、轴类、凹槽、小孔等多种复杂几何表面的测量挑战。