X-RAY XDAL237X荧光射线测厚仪信息

德国菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237 作为能量色散 X 射线荧光（EDXRF）技术的代表性仪器，专为薄涂层测量与材料分析打造，是电子、半导体、航空航天等高精度制造领域的核心检测设备。其采用模块化设计与德国严苛技术标准，实现了无损测量与高分辨率分析的平衡。
仪器核心优势在于超精密测量能力，可精准检测≤0.05μm 的超薄涂层，元素分析范围覆盖铝（13）至铀（92），最多同时测定 24 种元素，支持复杂多层涂层系统的同步分析。配备微聚焦钨阳极 X 射线管与珀耳帖冷却半导体探测器，能量分辨率低至 200eV，配合 4 组可电动切换准直器和 3 种滤片，能针对不同镀层材质优化激发条件。自动化操作是其另一亮点，可编程 XY 工作台（移动范围 255mm×235mm）与 Z 轴升降系统，搭配激光定位器和高清视频摄像头，可实现测量点快速对准与实时监控，保护门开启时工作台自动移出加载样品，操作便捷高效。
应用场景广泛覆盖电子工业的 PCB 板、半导体元件功能性镀层检测，珠宝钟表行业的贵金属镀层分析，以及焊料中铅含量的 RoHS 合规检测。通过 WinFTM® 专业软件，可完成数据实时传输、统计分析与报告生成，符合 ISO 3497、ASTM B568 等国际标准。其 C 型槽设计支持大尺寸扁平样品测量，140mm 的样品高度兼容空间，115kg 的稳固机身确保长期测量稳定性，大幅降低校准频次，成为质量控制与生产监控的可靠伙伴。