菲希尔 X 射线荧光测厚仪XDL210信息

菲希尔 X 射线荧光测厚仪家族的核心型号，XDL210 以无损检测技术为核心，专为镀层厚度精准测量设计，广泛适配电子制造、精密五金等对精度要求严苛的领域。其采用先进 X 射线荧光光谱法，搭配自动聚焦功能，在保障样品完整性的同时，实现高精度数据采集。

核心技术上，该仪器搭载测量距离补偿法（DCM），可对 80mm 深度的腔体样品进行远距离对焦测量，解决复杂结构件检测难题。设备支持 30KV、40KV、50KV 三档可变高压调节，配合标配的 φ0.3mm 圆形准直器（另有 φ0.1mm、φ0.2mm 及长方形 0.3mm×0.05mm 等规格可选），能灵活匹配不同材质与厚度的测量需求。

凭借德国精工品质，XDL210 在微电子镀层、精密仪器涂层等场景中表现突出，可实现多层镀层的同步厚度分析，且数据重复性误差控制在行业水平。其一体化设计兼顾操作便捷性与结构稳定性，适配实验室及生产线的多场景应用，为质量管控提供可靠数据支撑。