PGI 轮廓仪关键技术亮点信息

PGI 轮廓仪关键技术亮点

混合测量技术

非接触式白光干涉（WLI）：适用于超光滑表面（如光学镜片、半导体晶圆），避免划伤样品。

接触式探针扫描：适用于高陡度、深沟槽或高粗糙度表面（如轴承滚道、喷油嘴），确保形貌完整性。

高分辨率 Z 轴光栅传感器：垂直分辨率高达 0.1 nm（部分资料中提到系统垂直分辨力可达 0.01 nm，通常指在理想条件下的噪声水平或重复性指标）。

计量性能

线性度误差：±0.1%，确保大范围测量中的准确性。

重复性：< 0.5%，提升批量检测的一致性与可靠性。

动态范围广：从亚纳米级粗糙度（Ra < 0.1 nm）到数十微米级粗糙表面均可覆盖。

型号与应用场景

PGI 420 / 820 / 1220：针对不同尺寸轴承的专用配置，行程与载重能力逐级提升。

PGI NOVUS：

Z 向量程达 20 mm，

垂直分辨率 0.2 μm（注：此处应为 0.2 nm 更符合技术逻辑，若原文确为 μm，可能指特定模式下的工程分辨率），

支持多参数测量：表面粗糙度（Ra, Rz 等）、圆度、直径、锥角、轮廓偏差等，广泛用于汽车、航空航天、精密制造领域。

TalyMap® 软件平台

符合 ISO 4287、ISO 25178、ASME B46.1 等国际标准；

提供 200+ 表面参数（包括传统 2D 参数与先进 3D 功能参数）；

支持 3D 形貌重建、滤波、自动报告生成、SPC 统计分析 等功能。