FISCHER XDL237 X射线荧光测厚仪信息

德国菲希尔（FISCHER）XDL237 X射线荧光测厚仪是一款高精度、非破坏性的镀层厚度测量设备，广泛应用于电子、汽车、五金、电镀及金属加工等行业。该仪器采用先进的X射线荧光（XRF）技术，可快速、准确地测量单层或多层金属镀层的厚度，如金、银、锡、镍、铬、锌、铜等，适用于各种基材，包括铁、铜、铝、塑料等。

XDL237配备高分辨率硅漂移探测器（SDD），具有优异的能量分辨率和测量灵敏度，即使对极薄镀层（可达纳米级）也能实现稳定可靠的检测。其操作界面简洁直观，支持多语言显示，用户可通过触摸屏轻松完成参数设置与数据分析。仪器内置多种标准测量程序，并支持自定义测量曲线，满足不同应用场景的个性化需求。

此外，XDL237符合多项国际标准（如ISO 3497、ASTM B568等），具备良好的重复性和长期稳定性，确保测量结果可追溯性。设备结构紧凑、坚固耐用，适合实验室及生产线现场使用。配合菲希尔专业的测量软件，还可实现数据存储、统计分析与报告生成，极大提升工作效率。

作为菲希尔XDL系列中的高性能型号，XDL237凭借其精准、高效与易用性，成为镀层质量控制和工艺优化的理想选择。