德国菲希尔 X 射线荧光测厚仪基本信息

德国菲希尔 X 射线荧光测厚仪基于 X 射线荧光分析技术，当 X 射线照射到样品表面时，激发样品中的元素发射出特征 X 射线荧光，通过检测这些荧光的能量和强度，即可准确分析样品的元素组成和含量，进而计算出涂镀层的厚度。例如 FISCHERSCOPE X-RAY XUL-XYm 型号，采用从下至上的原始射线设计，X 射线管高压可根据不同应用调节至 50kV、40kV 或 30kV，确保在各种测量场景下都能获得最佳的激发效果。这种独特的设计为测量不同几何外形的小工件，如螺丝、螺母、电连接器等提供了极大的便利，避免了传统从上往下测量系统中繁琐的测量距离调整，大大提高了测量效率和准确性。