泰勒霍普森 DUO 和 S100 系列粗糙仪对比信息

Surtronic DUO：基础款可直接显示关键粗糙度参数，如 Ra（算术平均粗糙度）和 Rz（最大高度粗糙度），部分版本或配置可能支持更多参数，如 Rq（均方根粗糙度）、Rt（轮廓最大高度）等，但总体以满足基本需求为主 。这些参数能有效反映表面的粗糙程度，对于一般工业生产中的质量检测较为实用。

Surtronic S100：支持全系列表面粗糙度参数检测，不仅包含基础几何特征参数（如 Ra、Rq、Rt ），还涵盖功能特征参数（如 Rsk 偏态系数、Rmr 材料比曲线）。这使得它能够更全面、深入地反映表面微观形貌特征，对于航空航天、精密机械等对表面质量要求高，且需要深入分析表面功能特性的行业更为适用。

操作界面

Surtronic DUO：采用类智能手机操作逻辑的三按钮菜单设计，极为直观明了。用户通过简单按键组合即可完成测量模式切换、参数设置等操作，学习成本极低。搭配 2.4 英寸工业级彩色 LCD 屏幕，具备强光可视功能，可实时显示测量数据、图形化轮廓曲线及操作提示信息 ，即使在光线复杂的车间环境中也能清晰查看数据。

Surtronic S100：拥有 4.3 大尺寸工业用触屏，像其他导航或者智能手机一样，易读性强。一页上可显示多至 7 个参数，以及测量设置和系统信息，能让用户更全面地同时获取多种测量相关信息。操作上，触摸屏的设计使得操作更加便捷流畅，对于习惯使用触屏设备的用户来说，上手容易。