菲希尔XDL 系列测厚仪信息

德国菲希尔 X 射线测厚仪 XDL 系列，是一款应用广泛的能量色散型 X 射线镀层测厚及材料分析仪。该系列仪器专为满足多样化的工业需求而设计，在质量控制、进料检验和生产流程监控等方面发挥着重要作用。

XDL 系列采用基本参数法，这一先进技术使得仪器无论是对镀层系统，还是对固体和液体样品，均可在无标准片的情况下进行精准测量和分析，测量范围覆盖元素氯（17）到铀（92）。

该系列根据不同的预期用途，提供多种版本。XDL 210 型配备固定式工作台与固定位置的 Z 轴系统；XDL 220 型的工作台同样固定，但采用马达驱动的 Z 轴系统；XDL 230 型设有可手动操控的 X/Y 工作台，搭配马达驱动的 Z 轴升降系统；XDL 240 型则具备马达驱动的 X/Y 工作台，且当保护门开启时，工作台会自动移至样品放置位置，其 Z 轴升降系统还可编程。