OCT 膜层检测仪原理信息

原理

光学干涉与断层扫描：OCT 膜层检测仪借助光学干涉现象，让低相干光经样品反射后与参考光干涉。通过断层扫描技术，精准捕捉不同膜层的光传播信息，重建三维结构，从而实现对膜层厚度、缺陷等的高精度分析。

组件协同工作：光源系统提供宽带近红外光，干涉仪完成光的分配与干涉处理，扫描系统实现样品方位扫描，探测器负责信号采集，数据处理系统则将原始信号转化为直观的断层图像。

特点

非接触式与无损检测：不会对易损膜层材料造成破坏，既能保护样品，又能保证检测的重复性与准确性。

实时检测：可融入生产线，及时发现生产中的问题，有助于提高生产效率和产品质量。

自动化操作：减少人工误差，降低运营成本，同时提高检测的一致性和可靠性。

高分辨率：能够达到微米级的成像精度，可清晰地显示膜层的微观结构和缺陷，远超超声波检测。

深度分辨：可逐层分析多层结构，如涂层、薄膜等，提供丰富的内部结构信息。

适应性强：适用于透明、半透明及部分不透明材料，具有较广泛的应用范围。

应用领域

工业领域

电子元件检测：可检测电子元件的涂层质量，如电路板上的三防漆涂层，能够快速发现气泡、分层等缺陷，确保电路板的可靠性。

显示屏幕检测：用于检测手机 3D 屏、柔性 OLED 等显示屏幕的薄膜缺陷，对薄膜的厚度、均匀性等进行精确测量，保障屏幕的显示质量。

半导体晶圆检测：可以检测半导体晶圆的细微损伤、划痕、凹坑等表面缺陷，以及内部的裂纹、气泡等缺陷，有助于提高半导体器件的良品率。

锂电池检测：能对锂电池极片涂层的均匀性进行分析，还可测量各种封装膜、贴合胶带的厚度，以及监测电池行业激光焊接熔深，保障锂电池的质量和安全性。