菲希尔 X 射线测厚仪 XDL 系列信息

菲希尔 X 射线测厚仪 XDL 系列：型号与特点解析

菲希尔 X 射线测厚仪 XDL 系列是应用广泛的能量色散型 X 射线镀层测厚及材料分析仪。该系列包含多种型号，各有特色，能满足不同用户的测量需求。

XDL 210 型配备固定式工作台和固定位置的 Z 轴系统，结构简单，成本较低。适用于样品测量位置相对固定的场景，如小型实验室对常规样品的初步检测。它运用 X 射线荧光光谱法，通过自动聚焦功能可精准测量镀层厚度，元素测量范围涵盖 Cl（17）-U（92），最多可同时测量 24 种元素、23 层镀层。

XDL 220 型同样是固定式工作台，但采用了马达驱动的 Z 轴系统，测量高度调节更便捷、精准。适合五金加工企业等需要频繁调整测量高度且对精度有一定要求的场景，可用于不同规格零部件的镀层测量。

XDL 230 型配备可手动操控的 X/Y 工作台和马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。样品在平面方向的定位更加灵活，能满足复杂形状样品的多角度测量需求，常用于电子元器件、精密模具等对测量位置要求较高的产品检测。它还可通过可编程 XY 工作台与 Z 轴实现自动化的批量测试，长期稳定性良好，无需经常校准。

XDL 240 型是系列中的高级型号，拥有马达驱动的 X/Y 工作台，保护门开启时工作台自动移到放置样品的位置，操作便利性与安全性大幅提升。搭配马达驱动的可编程 Z 轴升降系统，实现了自动化、智能化的测量流程，适用于大规模生产企业的在线检测，以及对测量效率和自动化程度要求高的科研机构。