FISCHER代理X射线测厚仪XDV-SDD信息

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD 菲希尔 X 射线测厚仪，作为一款功能强大的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，在超薄镀层厚度测量与痕量分析领域表现好，应用场景极为广泛。

该仪器采用台式设计，拥有友好操作界面，配备高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台与马达驱动的 Z 轴升降台。当防护测量门开启时，样品台会自动移出，方便放置样品；设备内置的激光点功能，可快速精准定位测量点；而集成图像放大与十字线功能的视频系统，不仅简化了样品放置流程，还能对测量点进行细微调整，确保测量的准确性。

在数据处理与操作控制方面，WinFTM® 软件发挥着关键作用。它功能强大且界面简洁，用户通过电脑即可完成仪器的所有操作，包括测量数据计算与报表生成，实现数据的清晰呈现与高效管理，让 X 射线荧光镀层测厚及材料分析工作更加智能、便捷。