泰勒粗糙度仪DUO的信息

• 凭借智能一键触发系统，SURTRONIC DUO 可在0.3 秒内同步采集 Ra（轮廓算术平均偏差）、Rz（轮廓最大高度）、Rt（轮廓总高度）、Rq（均方根偏差）、Rsk（偏度）、Rku（峰度）及 Rmr（材料比曲线）等 7 项核心粗糙度参数，相较传统单参数测量设备效率提升62%。以汽车零部件制造场景为例，在活塞环表面检测中，该设备不仅能精准量化微米级光洁度差异，还可通过 Rmr 参数解析表面材料分布特性，同步完成波纹度、微观峰谷形态的综合评估。配合内置的 ISO、ASME 等 15 种国际标准算法，测量数据可直接生成符合行业规范的质量报告，为生产工艺优化与质量管控提供全维度数据支撑。