菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X 射线镀层测厚仪

菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X 射线镀层测厚仪

核心功能与技术优势

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 是一款高精密能量色散型 X 射线荧光（EDXRF）检测设备，专为镀层厚度测量、材料成分分析及溶液分析设计，支持无损检测，广泛应用于质量控制、进料检验和生产流程监控。其核心技术亮点包括：




• 测量原理：基于 X 射线荧光光谱法，结合自动聚焦功能，确保样品完整性与测量精度，无需破坏被测物。

• 元素与镀层兼容性：可检测Cl（17）至 U（92）全系列元素，支持最多24 种元素、23 层镀层的同步分析，覆盖复杂多层镀层结构。

• 硬件性能升级：

• 手动 X/Y 平台：移动范围≥95×150mm，工作台面≥420×450mm，满足多样品批量放置与快速切换。

• 电动 Z 轴：支持手动 / 自动聚焦，行程≥140mm，适配不同高度（最高 140mm）的复杂形状样品。

• DCM 技术（测量距离补偿法）：支持0-80mm 深度腔体样品的远距离对焦测量，突破传统接触式检测的空间限制。

• 可变高压调节：提供 30kV、40kV、50kV 三档选择，灵活匹配不同材质与镀层厚度的检测需求。

• 高精度准直器：标配 φ0.3mm 圆形准直器，可选 φ0.1mm、φ0.2mm 及 0.3mm×0.05mm 长方形准直器，满足微米级区域的精准测量。

• 信号采集系统：采用比例接收器实现高计数率，搭配高分辨率 CCD 摄像头（40-160 倍放大），支持激光定位与 LED 照明，实时监控测量点并快速校准。