菲希尔X射线荧光测厚仪xdlm237信息

菲希尔台式测厚仪，X射线荧光测量法，非接触式测厚仪。X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，采用手动或自动方式，测量和分析微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层。

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDLM237 是一款性能优良、应用广泛的能量色散型 X 射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器围绕极薄镀层测量与微量成分分析进行优化设计，在质量控制、质量检验和生产监控等环节中具备可靠的检测能力，是工业检测领域性能出色的专业测量设备。

应用领域

• 电镀零部件批量检测：适用于大规模生产的电镀零部件，能够高效、准确地完成镀层厚度的批量检测，有助于保障产品质量的稳定性。

• 微小区域薄镀层测量：依托先进技术，可对微小区域上的薄镀层实现较为精准的测量，满足精密制造行业对微观检测的严格要求。

• 功能性镀层检测：在电子工业与半导体工业中，能够对各类功能性镀层进行专业测量分析，为端电子产品的品质把控提供有效数据支撑。

• 全自动测量应用：支持全自动测量模式，尤其适用于印刷线路板等复杂工件的批量检测，可明显提升检测效率与自动化程度。




该仪器配备可电动调整的多个准直器和基本滤片，能够依据不同测量需求，快速营造适宜的激发条件。同时，比例接收器具备较高的计数率特性，为测量结果的高精度输出提供有力保障。




FISCHERSCOPE®-X-RAY XDLM237 系统以其良好的精确性和稳定的长期性能表现，可降低仪器校准的频率，为用户节省不少时间和精力。此外，基于基本参数法的设计，使其在面对镀层系统、固体及液体等各类样品时，无需标准片也能完成较为准确的分析与测量，有效拓展了仪器的应用范围与操作灵活性。