菲希尔镀银层测厚仪产品信息

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 x射线荧光镀层测厚和材料分析仪：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM系列与XULXUUM系列密切相关:两者都使用相同的接收器，准直器和滤片组合。配备了标准X射线管和固定准直器的XDL仪器非常适合大工件的测量。XDLM型号的X射线源采用微聚焦管，可以测量细小的部件，对低辐射组分有较好的激励作用。此外，XDLM配备了可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地为不同的测量应用创造良好的激励条件。







菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL210/XDL220/XDL230/XDL240

菲希尔X荧光射线测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XDVSDD是Fischer产品组合中性能较好的X射线荧光仪器之⼀。这台XRF光谱仪配备了⾼分辨率和强⼤的硅漂移探测器 (SDD) ，其 涂层--例如，引线框架上约 2nm 厚的⾦镀层。