菲希尔荧光测厚仪XULM240信息

菲希尔荧光测厚仪 XULM240 是一款性能出色、应用广泛的 X 射线荧光镀层及材料分析仪，以下是其相关信息：

仪器特点

测量范围广：通过高压发生器与滤片组合，可覆盖极薄（如 50nm 金层）至较厚（如 100μm 锡层）的镀层测量需求，实现全范围精准测量1。

检测效率高：比例计数器支持高达数千 cps（每秒计数率）的高计数率，显著提升检测效率与数据稳定性1。

微区检测精度高：配备微聚焦 X 射线管，最小测量点可达 100μm，适用于接插件、微小触点等精细结构的镀层分析。部分型号支持自动切换准直器（如 0.05×0.05mm 至 Φ0.3mm）和滤片，能灵活适配不同应用场景1。

样品放置便捷：射线方向从下至上，搭配底部 C 型开槽的大容量测量舱，便于快速放置大尺寸样品（如 PCB 板）或异形件。还可选配手动 XY 工作台或可编程平台，辅助精确定位，并通过视频窗口实时观察测量位置1。

智能化与扩展性强：搭载薄膜 FP 法和块体 FP 法软件，支持含铅合金、多层镀层（如 Ni/Cu/Au）等复杂结构的分析。部分机型集成半导体探测器与比例计数器，兼顾高信噪比薄层测量与高计数率厚层检测1。

基本参数

X 射线源：微聚焦钨管，铍窗，高压分 30kV、40kV、50kV 三档。

准直器：4 个可电动切换的准直器，标准配置为圆形直径 0.1mm、0.2mm 及方形的 0.05mm×0.05mm、0.03mm×0.2mm；可选配置有多种组合。

滤片：3 个可切换基本滤片（标准配置为镍、铝、无滤片）。

测量点：最小测量点直径可达约 0.1mm。

测量距离：0-25mm，通过 DCM 方法进行距离补偿。

探测器：比例计数管探测器，部分机型可选配半导体探测器。

工作温度：10℃-40℃。

空气相对湿度：≤95%，无结露。

应用领域1

电子与半导体行业：可精确测量线路板上 Au/Ni/Cu/PCB、Sn/Cu/PCB 等多层结构，避免 Br 元素干扰；也能分析接插件与触点上的 Au/Ni/CuSn6 等镀层，确保导电性与耐腐蚀性。

汽车与工业制造：能检测螺栓、螺母等大批量零件的 Zn/Fe、ZnNi/Fe 镀层厚度，保障防锈性能；还可用于 Cr/Ni/Cu/ABS 塑料件等装饰性镀层的表面处理质量控制。

珠宝与钟表行业：可无损检测贵金属镀层（如金、银、铂）的厚度与成分，满足首饰成色鉴定需求。

电镀工艺监控：实时分析电镀液中的金属成分含量，优化镀液配比与工艺参数。

科研与新材料开发：支持纳米级超薄镀层（如 80nm 金层）的精准测量，助力半导体、光电子等领域研发。