菲希尔XDL240新型X射线测厚仪信息

菲希尔XDL240新型X射线测厚仪信息

X射线荧光镀层测厚仪以及分析仪，采用手动或者自动的形式，测量分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。

XDL240马达驱动的 X-Y 工作台，当测量门打开时，工作台会自动移到放置样品的位置；马达驱动的Z轴系统，可编程运行。测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板。所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL240

604-498