泰勒霍普森接触式粗糙度仪DUO测量原理

泰勒霍普森接触式粗糙度仪DUO测量原理

按一键即可测量多个粗糙度参数。这些参数(如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt)会显示在直观的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充电电池，便于在所有环境和表面进行快速、轻松和精确的现场测量。

测量原理：通过采用耐磨的金刚石测针部件，以及精密的机动驱动装置，确保行进正确的水平距离。当测针划过波峰和波谷时，高感应度的压电传感器能检测到它的垂直移动，然后将机械移动转化为电子信号。电子信号将进行数字化处理并发送到微处理器， 然后使用标准化算法即时计算表面粗糙度参数。Surtronic DUO粗糙度仪