FISCHERSCOPE X-ray XUL220测厚仪信息应用
X射线荧光镀层测厚仪用于无损测量镀层厚度以及分析材料成分。
XUL220测厚仪是一款性能优秀的、设计紧密、应用广泛的x射线荧光镀层测厚及材料分析仪。常常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。比较适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。
测量领域有:1,在小部件,如螺钉,螺栓和螺帽上的测量;2,在连接器和电气元件上的测量;3,电镀液的溶液成分分析。
其中比例接收器可以有效的提高工作效率,大大减少了工作时的繁琐步骤,它可以进行高精度的测量,就像所有FISCHERSCOPE X-RAY 的仪器一样,拥有出色的精确性以及长期的稳定性,这样可以有效的减少校准仪器所需的时间和精力。
FISCHERSCOPE X-RAY XUL220,依靠FISCHER的基本参数法,可以在没有校验标准片校正的情况下分析固,液态成分及测量样品的镀层厚度。