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泰勒霍普森、粗糙度仪、SURTRONIC DUO信息

  • 发布日期:2025-03-05      浏览次数:287
    • DUO 具有红外接口可在距离被测物 1 米处进行测量。

      SURTRONIC DUO新型粗糙度仪通过仪器底部传感器直接接触被测工件进行测量,其设计可满足不同的技术与工作环境要求。

      SURTRONIC DUO新型粗糙度仪快速测量 在仪器底端接触工件瞬间,即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可

      携带方便 DUO粗糙度仪 可应用于车间、实验室的测量。也可方便置于衣服口袋中或挂在腰间。

      经外接口 操作者可在距离被测工件 1m 处操作测量。

      校准方便 DUO 粗糙度仪具有自身校准标准,可预设标准值,通过 LCD 显示出来。

      测针保护 不用时,设“ park "位置可全面保护测针。

      人体工程学设计

      泰勒霍普森粗糙度仪DUO新型粗糙度仪量 程: 200um

      行 程: 5mm

      取样长度: 0.8mm+/-15%

      参 数: Ra : 0.1um-40um Ra : 0.1um-199um

      精 度: Ra:0.1um Rz:0.1um

      尺 寸: 125*80*38mm

      检测方式: 压电式

      DUO新型粗糙度仪重 量: 200g


    苏公网安备32021402002648