菲希尔XULM240、信息

X射线镀层测厚仪XULM 240

硬件：用于镀层厚度测量和材料分析的X-射线荧光测量系统。

配备微聚焦射线管，手动X-Y轴工作台，

4个电机驱动的视准器组，

尺寸分别为：

圆形直径0.1/0.2方形0.05×0.05mm

和槽型0.03×0.2mm。

配备3种可切换的滤波器，

以达到*佳的测量灵敏度。

X-射线由下往上。

高清晰度彩色摄像头。

计算机系统：

英特尔处理器，预装Win10

以及WinFTM测量软件

19英寸彩色液晶显示器

12纯元素片：

(Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr)

仪器安装：维修工程师现场安装调试与培训。