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菲希尔XDLM231信息

  • 发布日期:2025-01-07      浏览次数:115
    • 可用于测量所有金属镀层的厚度以及多镀层或者合金成分分析,也可以进行电解溶液含量成份分析,带有国家环保局豁免证书,无放射源设计,安全环保。主要用于微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层测量、分析。

      菲希尔X射线测厚仪特点:

      1、测量大规模生产的电镀零部件;

      2、测量微小区域上的薄镀层;

      3、测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层;

      4、全自动测量,如测量印刷线路板。

      型号

      项目

      XDLM-231

      XDLM-237

      通用规格

      设计用途

      能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) ,测量薄镀层和微小结构样品,分析合金组分

      元素范围

      从元素氯 (17) 到铀 (92),最多可以同时测定24种元素

      工作台

      平台

      固定式样品平台

      马达驱动可编程X/Y平台

      可用样品平台

      463mm x 500mm

      300mm x 350mm

      X/Y平台最大移动距离

      \

      255mm x 235mm

      X/Y平台最大移动速度

      \

      ≤80mm/s

      X/Y平台移动重复精度

      \

      ≤0.01mm(单向)

      样品最大重量

      20kg

      5kg,降低精度可达20kg

      样品最高高度

      140mm

      电气参数

      电原要求

      AC 220V 50HZ

      功耗

      最大120W(测量头,不包括计算机)

      保护等级

      IP40

      环境要求

      使用温度

      10℃-40℃

      存储或运输时温度

      0℃-50℃

      空气相对湿度

      ≤95%,不结露

      计算单元

      计算机

      Windows®-PC

      软件

      标准:Fischer WinFTM® BASIC

      可选:Fischer WinFTM® PDM®,SUPER

      尺寸规格

      外部尺寸

      570mm×760mm×650mm

      内部测量舱尺寸

      460mm x 495mm x146mm

      重量

      100kg

      120kg


    苏公网安备32021402002648