德国无锡骏展仪器供应FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品简介:
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
XDL230 有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器,比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了FISCHER基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品应用:
测量大规模生产的电镀部件
测量镀层,例如:装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
测量印刷线路板
分析电镀溶液