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菲希尔X射线镀层测厚仪产品信息

  • 发布日期:2023-08-09      浏览次数:537
    • 菲希尔X射线镀层测厚仪产品信息

      X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台,用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。

      FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希尔X射线测厚仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台,是全自动测量样品的理想设备。

      FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希尔X射线测厚仪设计为界面友好的台式测量仪器。它配备了高精度、可编程运行的X/Y轴工作台和马达驱动的Z轴升降台。当具有防护功能的测量门开启时,样品台能自动移出到放置样品的位置。通过激光点,可以快速对准需要测量的位置。仪器内置带有图像放大及十字线功能的视频系统,简化了样品放置的过程,并可对测量点位置进行精确微调。

      所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。