在一定的厚度以上，X射线荧光对镀层的无损测量达到了极限，这就是COULOSCOPE®CMS2发挥作用的地方。它用库仑法测量多种金属镀层的厚度，这是做相当简单的退镀处理。COULOSCOPE CMS2可以准确地测量许多常见的单层和多层镀层。
库仑法的成本效益高，可准确地替代X射线荧光法-前提是你可以接受一种破坏性的测量方法。它为您提供了很大的灵活性，因为它可以用于广泛的镀层组合。您可以使用库仑法测量镀层厚度，特别是在电镀镀层的质量控制中，以及用于监测印刷电路板上的残余纯锡厚度。
应用
电镀生产过程中的监控和成品的进厂检验
可以准确测量多种金属镀层的厚度0.05–50µm(根据材料不同)
金属和非金属基材上单层和多层镀层厚度的测量
多镀层体系：例如在铁或塑料基体(ABS)上镀铬/镍/铜等多层镀层
双镀层体系：例如银或铜上面镀锡或镀镍
单镀层如铁上镀锌
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