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菲希尔X射线测厚仪Fischer代理信息

  • 发布日期:2022-09-10      浏览次数:182
    • 菲希尔X射线测厚仪Fischer代理信息

      Fischerscope X-RAY菲希尔X射线测厚仪特性:

      • X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合,可完成各种测量任务

      • 由于测量距离可以调节(最大可达 80 mm),适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件

      • 通过可编程 XY 工作台与 Z 轴(可选)实现自动化的批量测试

      • 使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器,非常适用于测量超薄镀层(XDAL 设备)

      Fischerscope X-RAY菲希尔X射线测厚仪应用:

      镀层厚度测量

      • 大型电路板与柔性电路板上的镀层测量

      • 电路板上较薄的导电层和/或隔离层

      • 复杂几何形状产品上的镀层

      • 铬镀层,如经过装饰性镀铬处理的塑料制品

      • 氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量

      Fischerscope X-RAY菲希尔X射线测厚仪材料分析

      • 电镀槽液分析

      • 电子和半导体行业中的功能性镀层分析


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