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菲希尔X射线测厚仪介绍

  • 发布日期:2022-06-12      浏览次数:94
    • 菲希尔X射线测厚仪介绍

      FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希尔X射线测厚仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。菲希尔X射线测厚仪其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台,是全自动测量样品的理想设备。

      XDV-SDD菲希尔X射线测厚仪设计为界面友好的台式测量仪器。菲希尔X射线测厚仪它配备了高精度、可编程运行的X/Y轴工作台和马达驱动的Z轴升降台。菲希尔X射线测厚仪当具有防护功能的测量门开启时,样品台能自动移出到放置样品的位置。通过激光点,可以快速对准需要测量的位置。菲希尔X射线测厚仪仪器内置带有图像放大及十字线功能的视频系统,简化了样品放置的过程,并可对测量点位置进行精确微调。

      所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM软件在电脑上完成。

      XDV-SDD最多可同时测定从铝(13)到铀(92)中的24 种元素

      测量门向上开启的台式仪器,侧面开槽设计

      马达驱动、可编程运行的 X/Y 轴工作和 Z 轴升降台 

      马达驱动、可切换的准直器和基本滤片。


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