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泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S116参数介绍

  • 发布日期:2022-05-22      浏览次数:82
    • 泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S116产品简介

      泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S116测试参数:

      Surtronic S116三个取样长度:0.25mm、0.8mm、2.5mm

      Surtronic S116二个滤波器:2CR、Gaussian

      Surtronic S116评定长度:0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选

      大行程:17.5mm

      测试速度:

      测试速度:1mm/sec(0.04 in/sec)

      回程速度:1.5mm/sec(0.06in/sec)

      测试参数:

      执行标准:ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

      ISO标准可以测量12个参数: Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

      ASME标准可以测量11个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

      JIS标准可以测量14个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

      其他 :R3z (Daimler Benz)

      测试单位:um/uin


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