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泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic DUO技术参数

  • 发布日期:2022-05-15      浏览次数:96
    • 泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic DUO技术参数

      SURTRONIC DUO 粗糙度仪技术指标:

      量    程:200um

      行    程:5mm

      取样长度:0.8mm   +/-15%

      参    数:Ra:0.01um-40um 

      Rz:0.1um-199um Rp、Rt、Rv

      显    示Ra:0.01um

      精    度:Rz:0.1um

      检测方式:压电式

      尺    寸:125*80*38mm

      重    量:200g

      订货号:112-3115  

      SURTRONIC DUO粗糙度仪  Ra Rz Rv Rp Rt

      112-3115-10EX(防爆型) Ra Rz Rv Rp Rt

      订货号:112-2916-03   Ra  Rz 

      粗糙度仪

      泰勒霍普森粗糙度仪


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