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Surtronic S116泰勒霍普森粗糙度仪介绍

  • 发布日期:2022-05-08      浏览次数:231
    •  Surtronic S116泰勒霍普森粗糙度仪介绍

      泰勒霍普森粗糙度仪技术指标:
      测量范围:200 um 100 um 10 um
      分辨率:  100 nm 20 nm 10 nm
      底噪(Ra):250 nm 150 nm 100 nm
      重复精度 (Ra) :1%测试值+底噪
      传感器原:电感
      测量力:150-300mg
      测针针尖半径:标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)
      测试方式:滑动扫描
      泰勒霍普森粗糙度仪校准:
      自动软件校准    标准:ISO4287
      泰勒霍普森粗糙度仪测试参数:
      三个取样长度:0.25mm、0.8mm、2.5mm
      二个滤波器:2CR、Gaussian
      评定长度:0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选
      大行程:17.5mm
      测试速度:
      测试速度:1mm/sec(0.04 in/sec)
      回程速度:1.5mm/sec(0.06in/sec)
      泰勒霍普森粗糙度仪测试参数:
      泰勒霍普森粗糙度测量仪执行标准:ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
      ISO标准可以测量12个参数: Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
      ASME标准可以测量11个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
      JIS标准可以测量14个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
      其他 :R3z (Daimler Benz)
      泰勒霍普森粗糙度测量仪测试单位:um/uin

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