Fischer X射线镀层测厚仪

Fischer X射线镀层测厚仪

FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm X射线光谱仪，主要用于无损厚度测量和成分析。

菲希尔X射线测厚仪比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了

Fischerscope X-RAY XUL型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。

本款仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY典型的应用领域有：

菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY在小部件如螺钉、螺栓和螺帽上的测量

在连接器和电气元件上的测量

电镀液的溶液成分分析

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。根据不同的预期用途，有不同的版本。

XDL 210 型的工作台为固定式工作台，固定位置的 Z 轴系统。

XDL 220 型的工作台为固定式工作台，马达驱动的 Z 轴系统。

XDL 230 型配有可手动操控的 X/Y 工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。

XDL 240 型则配备了马达驱动的 X/Y 工作台，当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。