菲希尔XDLM237 X射线测厚仪代理

菲希尔XDLM237 X射线测厚仪代理

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237核心定位与特点

全自动测量：搭载可编程电动 XY+Z 轴样品台，支持批量零件自动扫描与多点测量。

微聚焦高精度：最小光斑直径 0.1 mm，专为微小精密零件（如连接器、引脚）设计。

自上而下测量：适合曲面、异形件，不受样品平整度限制。

大样品兼容：机身带 C 型开槽，可测量超大面积 PCB 等扁平工件。

符合国际标准：测量符合 DIN ISO 3497 与 ASTM B 568。

详细技术参数

1. 核心系统

X 射线源：微聚焦钨靶射线管，三档高压（10 / 30 / 50 kV）

探测器：比例计数管（Proportional Counter）

测量元素：铝 (Al, 13) — 铀 (U, 92)，可同时分析 ≤24 种元素

测量模式：单层 / 多层镀层厚度、合金成分、有害物质（RoHS）筛查

2. 光学与定位

准直器（4 种）：0.1 mm / 0.3 mm / 0.6 mm / 0.5×0.15 mm 狭缝

滤光片（3 种）：镍 (Ni) / 铝 (Al) / 无滤光

定位系统：CCD 彩色摄像头（40–160 倍变焦）+ 激光定位 + LED 照明

距离补偿： DCM 技术，自动补偿样品高度差异

3. 样品台（XDLM 237）

XY 行程：255 × 235 mm

Z 轴行程：140 mm

移动速度：≤ 80 mm/s

重复精度：XY ≤ 0.01 mm

样品高度： 140 mm

承重：标准 5 kg / 20 kg（精度降低）

4. 物理规格

尺寸：570 × 760 × 650 mm (W×D×H)

重量：约 120 kg

电源：115/230 V, 50/60 Hz

功耗： 120 W