品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 价格区间 | 面议 |
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产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,综合 |
菲希尔FISCHER X射线XDL230
菲希尔X射线测厚仪、FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。它是由大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能全自动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
菲希尔X射线测厚仪、FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。其测量范围为元素氯(17)到铀(92)。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230典型的应用领域有:
测量大规模生产的电镀部件
测量超薄杜策,例如:装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
全自动测量,如测量印刷线路板
分析电镀溶液