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菲希尔镀层测厚仪|X射线仪器

菲希尔镀层测厚仪|X射线仪器

简要描述:
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更新时间:2024-07-04

访问量:95

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,制药,综合

菲希尔镀层测厚仪

菲希尔X射线测厚仪特点:

XDV-μ/XDV-u-PCB

1、测量极微小部件结构,如印制线路板、接插件或引线框架等;

2、分析超薄镀层,如小于 0.1 μm的Au和Pd镀层;

3、测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层;

4、分析复杂的多镀层系统;

5、全自动测量,如在质量控制领域。

菲希尔镀层测厚仪|X射线仪器

适用于无损分析和测量极微小部件机构上镀层的厚度,即使是复杂的镀层结构,也同样应付自如。

项目

XDV-u/XDV-u-PCB

品牌

菲希尔

可分析镀层数

可同时测量23层镀层,同时分析24种元素,进行厚度测量和材料分析,从Al到U

计算方法

采用基本参数法(内置纯元素频谱库),没有标准片也可以测量

底材影响

无损测量镀层时不受底材影响

特点

能够显示mq值(测量品质显示)

放大倍数

最高达到1080X (光学变焦: 30X,90X,270X;数字变焦: 1X,2X,3X,4X)

可用样品平台面积

宽x深:370mm x 320mm,开槽式设计,可测量大面积线路板


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