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菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL210测厚仪

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL210测厚仪

简要描述:
菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL210测厚仪,XDLM测量系统经常用来测量接插件和触点的各种底材上的Au/Ni,Au/PdNi/Ni,Ag/Ni或Sn/ Ni镀层的厚度。通常功能区都是很小的结构如或突起,测量这些区域必须使用很小的准直器或适合样品形状的准直器。例如测量椭圆形样品时,就要使用开槽的准直器以获得zui大的信号强度。

更新时间:2024-05-10

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厂商性质:经销商

生产地址:

品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,生物产业,制药,综合

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL210测厚仪

无锡骏展仪器供应德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE XDL210特点

  • 坚固耐用的镀层厚度测量设备,甚至可在较大的距离测量(DCM功能,范围0-80 mm)工作

  • 固定光圈和固定滤光镜

  • 用于1mm起大小的测量点

  • 底部C型开槽的大容量测量舱

  • 可编程的台式设备,用于自动测量

  • 标准X射线管,比例计数器

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL210测厚仪

德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE XDL210典型应用领域

  • 测量大规模生产的电镀零件

  • 防腐镀层和装饰性镀层,如镍/铜上的铬

  • 电镀工业中电镀液的分析

  • 黄金、珠宝和钟表工业


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