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X射线测厚仪Fischerscope X-ray XAN222

X射线测厚仪Fischerscope X-ray XAN222

简要描述:
X射线测厚仪Fischerscope X-ray XAN222,XDLM测量系统经常用来测量接插件和触点的各种底材上的Au/Ni,Au/PdNi/Ni,Ag/Ni或Sn/ Ni镀层的厚度。通常功能区都是很小的结构如或突起,测量这些区域必须使用很小的准直器或适合样品形状的准直器。例如测量椭圆形样品时,就要使用开槽的准直器以获得zui大的信号强度。

更新时间:2024-04-13

访问量:107

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,制药,综合

X射线测厚仪Fischerscope X-ray XAN222

FISCHERSCOPE X-RAY XAN220/222X射线荧光测量仪 商品特点

  • 菲希尔X射线测厚仪Fischer代理为无损分析珠宝、钱币和贵金属特别优化设计

  • 菲希尔X射线测厚仪Fischer代理配备固定的准直器和基本虑片,特别适用于贵金属分析

  • 菲希尔X射线测厚仪Fischer代理配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD),适用于更复杂的多元素分析

  • 由下至上的测量方向,可以简便地实现样品定位

FISCHERSCOPE X-RAY XAN220/222 X射线荧光测量仪 商品应用

  • 在珠宝和钟表行业中的黄金和贵重金属分析

  • 牙科行业中的材料合金分析

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