XDAL237菲希尔X射线测厚仪

XDAL237菲希尔X射线测厚仪

区别在于使用的探测器类型不同。在德国菲希尔XDAL X射线荧光测厚仪使用了帕尔贴制冷的硅PIN探测器，从而有了远好于XDLM使用的比例计数器的能量分辨率。因而，这台仪器适合于一般材料分析，痕量元素分析及测量薄镀层厚度。

无锡骏展仪器供应菲希尔X射线源是一个能产生很小光斑面积的微聚焦X射线管。然而，由于相对较小的探测器有效接收面积（相比较比例计数器探测器来说），信号强度低，故XDAL有限适用于极微小结构和测量点的测量。和XDLM类似，准直器和基本滤片是可自动切换，以便为不同测量程式创造的激励条件。

德国菲希尔FISCHERSCOPE XDAL X射线荧光测厚仪的测量空间宽大，菲希尔X射线测厚仪无锡骏展仪器供应可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的Z轴允许放置zui高可达140mm高度的样品。C型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE XDAL237测量系统配有快速可编程的XY平台，因而可以方便地按照预定程序扫描检查样品表面。此外，在如引线框架等样品上进行多点测量，或是在多个不同样品上进行批量测量，都可以通过快速编程自动化地完成。

由于XY平台在舱门打开时，能自动弹出到加载样品位置，故而样品放置定位变得十分简便。激光点标示处就是样品的测量位置。