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Fischerscope X-ray XDL210镀金层测厚仪

Fischerscope X-ray XDL210镀金层测厚仪

简要描述:
Fischerscope X-ray XDL210镀金层测厚仪,XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。

更新时间:2024-02-26

访问量:225

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,制药,综合

Fischerscope X-ray XDL210镀金层测厚仪

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL-210菲希尔X射线测厚仪典型的应用领域有:

 测量大规模生产的电镀部件

 测量薄镀层,例如装饰铬

 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

 全自动测量,如测量印刷线路板

 分析电镀溶液

菲希尔X射线测厚仪

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210菲希尔X荧光射线测厚仪仪器规格

外部尺寸 宽x 深x 高[mm]:570 x 760 x 650

重量 XDL210:90 kg;XDL220:95 kg ;XDL230:105 kg;XDL240:120 kg

内部测量室尺寸 宽x 深x 高[mm]: 460 x 495 (参考“样品-大高度"部分的说明)

环境要求

操作温度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F

储藏或运输温度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F

空气湿度 ≤ 95 %,无结露


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