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菲希尔镀银层测厚仪|X射线

菲希尔镀银层测厚仪|X射线

简要描述:
菲希尔镀银层测厚仪|X射线,XUL仪器适合测量不同形状的细小工件,如螺丝,螺钉或螺帽,连接器触点及其它电子元器件。它还适合快速、简便地测量电镀液中的金属含量。

更新时间:2024-02-20

访问量:244

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,制药,综合

菲希尔镀银层测厚仪|X射线

菲希尔X射线测厚仪所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM软件在电脑上完成。

FISCHERSCOPE XULM 240 DIN ISO 3497 标准和 ASTM B 568标准。作为保护的仪器,其型式许可符合德国"Deutsche Röntgenver-ordnung-RöV"法规的规定。

菲希尔X射线测厚仪

菲希尔X射线测厚仪特性:

  • X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合,可完成各种测量任务

  • 由于测量距离可以调节(大可达 80 mm),适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件

  • 通过可编程 XY 工作台与 Z 轴(可选)实现自动化的批量测试

  • 使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器,非常适用于测量超薄镀层(XDAL 设备)

Fischerscope X-RAY菲希尔X射线测厚仪应用:

镀层厚度测量

  • 大型电路板与柔性电路板上的镀层测量

  • 电路板上较薄的导电层和/或隔离层

  • 复杂几何形状产品上的镀层

  • 铬镀层,如经过装饰性镀铬处理的塑料制品

  • 氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量

材料分析

  • 电镀槽液分析

  • 电子和半导体行业中的功能性镀层分析

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