菲希尔镀银层测厚仪|X射线

菲希尔镀银层测厚仪|X射线

菲希尔X射线测厚仪所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM软件在电脑上完成。

FISCHERSCOPE XULM 240 DIN ISO 3497 标准和 ASTM B 568标准。作为保护的仪器，其型式许可符合德国＂Deutsche Röntgenver-ordnung-RöV＂法规的规定。

菲希尔X射线测厚仪特性：

• X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务

• 由于测量距离可以调节（大可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件

• 通过可编程 XY 工作台与 Z 轴（可选）实现自动化的批量测试

• 使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量超薄镀层（XDAL 设备）

Fischerscope X-RAY菲希尔X射线测厚仪应用：

镀层厚度测量

• 大型电路板与柔性电路板上的镀层测量

• 电路板上较薄的导电层和/或隔离层

• 复杂几何形状产品上的镀层

• 铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品

• 氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量

材料分析

• 电镀槽液分析

• 电子和半导体行业中的功能性镀层分析